multifunctional scanning probe microscope Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), относится к той отрасли микроскопии, которая дает изображение с поверхностей при применении физического зонда, он непосредственно сканирует образец. Исследования в сфере биологических наук доминирует над всеми остальными сферами. Именно благодаря растущим потребностям в исследованиях в области биологических наук и способствуют развитию микроскопии. Подобные методы исследований имеют большое значение в таких производственных отраслях, как автомобилестроение и авиакосмическая промышленность. Чрезвычайно важны методы СЗМ в электронике и для исследований кремниевых поверхностей. А также и для исследования поверхностей раздела полупроводниковых материалов. Кроме того, в биологии и в медицине методы СЗМ могут использоваться для исследования пептидных структур, они определяют их жесткость и структуру. Достоинством СЗМ считается то, что она работает в вакууме. В отличие от оптического, электронный микроскоп, обладает способностью измерять многие физические параметры. Сюда входит различное измерение электрических характеристик. Такие измерения делает силовая микроскопия с зондом Кельвина (KPM / KPFM) или магнитно-силовая микроскопия(MFM).